SWIR Inspection
SWIR 相機適合哪些檢測
SWIR 短波紅外不是一般可見光相機的替代品，而是用來看材料在短波紅外波段下的吸收、穿透與反射差異。
常見應用
- 水分、含水率或乾燥程度差異。
- 矽晶圓、半導體材料與可見光下不易分辨的缺陷。
- 塑膠、包材、食品異物與材質分選。
- 塗層、膠水、隱藏污染或表面下方瑕疵。
要一起評估光源
SWIR 檢測通常不能只換相機。需要確認樣品在特定波長下是否有足夠對比，也要搭配合適 SWIR 光源、鏡頭鍍膜、曝光時間與散熱條件。
選型需要的資訊
請提供樣品材質、希望分辨的差異、FOV、速度、工作距離、是否需要冷卻型相機，以及是否已有測試波長。若還沒有波長資料，建議先安排樣品測試。